紅外屏點(diǎn)擊劃線(xiàn)試驗機

產(chǎn)品介紹

紅外屏點(diǎn)擊劃線(xiàn)試驗機，紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀主要參數：

紅外屏點(diǎn)擊劃線(xiàn)試驗機，紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀儀器特點(diǎn)：

1. 客戶(hù)提供觸摸數控IC 之工作通信協(xié)議，即可采集、分析、統計紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線(xiàn)精度、靈敏度、坐標抖動(dòng)、報點(diǎn)頻率、響應時(shí)間等性能，客戶(hù)提供觸摸數控IC 之底層通信協(xié)議，即可完成信噪比測試測試，兼容多家品牌IC，如Cypress（賽普拉斯）、Atmel（愛(ài)*）、敦泰（Focaltech）、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、seni、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等；

2. 滿(mǎn)足CTP 屏精度測試、抖動(dòng)測試、線(xiàn)性度測試、靈敏度測試、長(cháng)時(shí)間劃線(xiàn)測試、長(cháng)時(shí)間點(diǎn)擊測試；

3. 運動(dòng)軌跡及測試：方便的坐標找點(diǎn)功能，只需于[教導程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運動(dòng)軌跡，任取二點(diǎn)可劃線(xiàn)，任取四點(diǎn)劃矩形，并可根據測試屏規格存儲運動(dòng)軌跡便于下次調用；

4. 強大的存儲功能： 由于測試文件存儲在計算機內，不限組數，測試數據，方便調用；

5. 可實(shí)時(shí)顯示當前X、Y、Z 軸坐標值，電機驅動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等；

6. 強大的測試軟件：軟件根據觸摸屏常用的測試方法，預置了多種測試方法，客戶(hù)只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L，選擇測試方法（如精度測試、線(xiàn)性度測試等）即可測試，無(wú)需每次編輯；

7. 機臺采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理，富有質(zhì)感；

8. XYZ 三軸采用日本松下伺服電機驅動(dòng)，日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線(xiàn)性導軌傳動(dòng)，高速低噪聲，耐久使用；定位精準，重復精度≤0.01mm 為業(yè)內zui高；

9. 軟件精準定位功能：可通過(guò)X1、X2、Y2 三個(gè)點(diǎn)精準定位試樣，一次設定保存后，同規格樣品無(wú)需再次校對定位，效率更率，精度更高；

10. 雙工位輪流測試式設計，可選用真空吸附CTP 屏，加快了測試速度，節省換屏和夾裝時(shí)間；

11. 設備結構設計合理，充分考慮到人體工程易操作性，布局合理，將干擾源降到zui低。

電容屏綜合測試儀測試項目：

1. 滿(mǎn)足CTP 屏廠(chǎng)產(chǎn)線(xiàn)測試---更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現不同IC 之屏測試；滿(mǎn)足手機、平板電腦等整機測試，通過(guò)WIFI 傳輸測試數據給電腦軟件進(jìn)行數據采集、分析、統計，并生成PDF測試報表；

2. 點(diǎn)擊精度測試---根據客戶(hù)不同要求，在測試區域內任意位置設置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)地檢測出產(chǎn)品的處理能力及精準度；

3. 劃線(xiàn)線(xiàn)性度測試---支持平行線(xiàn)、垂直線(xiàn)、對角線(xiàn)、圓弧等多種圖像來(lái)檢測產(chǎn)品的線(xiàn)性偏差?？稍跍y試區域內任意設置線(xiàn)距、線(xiàn)數及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線(xiàn)、兩點(diǎn)劃圓等多種測試方式，達到更精確的體現產(chǎn)品的特性；

4. 靈敏度測試---可設定不同的劃線(xiàn)軌跡，實(shí)現接觸式劃線(xiàn)或非接觸式劃線(xiàn)，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設定調節，并能自動(dòng)找出觸控高度；

5. 坐標抖動(dòng)測試---在測試區域內可設置多種測試圖形，并對每個(gè)點(diǎn)的數據進(jìn)行多次讀取，并計算出偏差值；

6. 劃線(xiàn)可靠性測試---在測試區域內設置多種測試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線(xiàn)，判定在測試過(guò)程中是否有斷線(xiàn)現象；

7. 信噪比測試---通過(guò)對產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測試，采集IC 采集的信號值并計算信噪比（需IC 協(xié)議支持）；

8. 報點(diǎn)頻率測試---在測試區域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數據，計算出產(chǎn)品發(fā)出數據的頻率；

9. 響應時(shí)間測試---在測試區域內任意位置點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計算出產(chǎn)品的響應時(shí)間，支持多點(diǎn)響應時(shí)間測試；

10. 功耗測試---通過(guò)高精度毫瓦級功耗測試模塊測試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗（需IC 協(xié)議支持）；

11. 強大的數據庫功能，能快速的對采集回來(lái)的數據進(jìn)行分析統計，實(shí)現圖形與數據鏈接，自動(dòng)生成各種測試報告，此報告格式可能要根據不同客戶(hù)要求改動(dòng)；

12. 軟件防呆能力、權限設置、一鍵式測試，操作簡(jiǎn)易，測試完畢可根據設定指標（偏差值）自動(dòng)判定PASS OR FAIL。

紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀精度測試：

1. 測試方法：參照下圖所示的區域對13個(gè)圓形區域用接地的標準銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據實(shí)際項目需求）進(jìn)行觸摸，測試觸摸要20次以上，每次觸摸100ms，然后抬起500ms。記錄下TP報出的坐標，圖2中區域劃分成4×4，長(cháng)寬計算如圖所示（W-5）/4，青色為非邊緣區（觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5），藍色為邊緣區（觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13）。

2. 判定標準：記錄下的坐標有無(wú)超出±1mm（非邊緣區），±2mm（邊緣區），超出結論為NG，不超出結論為OK。

電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀抖動(dòng)測試：

3. 測試方法：參照上面精度測試中圖所示，對每個(gè)點(diǎn)用接地標準銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據實(shí)際項目需求）進(jìn)行觸摸，不支放置5S，記錄下坐標。

4. 判定標準：記錄下的坐標有無(wú)超出±1mm（非邊緣區），±1.5mm（邊緣區），超出結論為NG，不超出結論為OK。

紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀線(xiàn)性度測試：

1. 測試方法：參照下圖中左邊三個(gè)所示的路徑用接地標準銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據實(shí)際項目需求）分別以5mm/S和50mm/S畫(huà)線(xiàn)，記錄下坐標的偏離度，其中豎線(xiàn)路徑從左到右分別為豎1到豎5，從上到下為橫1到橫5，從左上角到右下角為左對角，從右上角到左下角為右對角。

2. 判定標準：坐標的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG，不超出的為OK

，紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀靈敏度測試：

1. 測試方法：參照右圖對TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny，Nx=W/1mm，Ny=H/1mm，按所示的路徑有接地標準銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據實(shí)際項目需求）以5mm/S畫(huà)線(xiàn)，觀(guān)察是否有斷線(xiàn)。

2. 判定標準：若有斷線(xiàn)為NG，否則為OK。

，紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀劃線(xiàn)測試：

1. 測試方法：參照下圖所示對TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位，用銅柱（具體用哪個(gè)直徑銅柱根據實(shí)際項目需求）分別以高速1S/點(diǎn)，中速1.5S/點(diǎn)，低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn)，其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘，再接著(zhù)從頭開(kāi)始，如此反復4小時(shí)，接著(zhù)以中速進(jìn)行4小時(shí)，接著(zhù)再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀(guān)察報點(diǎn)坐標超出范圍。

2. 判定標準：測試過(guò)程中不應有斷線(xiàn)。

，紅外屏綜合測試儀，紅外屏測試儀，電容屏測試儀，電容屏綜合測試儀主要配置：